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纳米薄膜导热测量系统

纳米薄膜导热测量系统融合了锁相热成像技术,大幅提升激光闪射法的测量精度,并给出直观的成像分析结果,非常适合薄膜材料的导热性测量。

产品原理

        纳米薄膜导热测量系统融合了锁相热成像技术,大幅提升激光闪射法的测量精度,并给出直观的成像分析结果,非常适合薄膜材料的导热性测量。





核心技术优势

1、锁相红外高精度捕捉热扩散信号

2、面阵成像定量观测热扩散各向异性

3、纳米级薄膜热散热系数测量

4、数分钟内完成快速检测

5、非接触式测量

6、自动化测试与数据分析





主要参数设计原理
面阵像素640*480
锁相频率0.1-25Hz
相机帧率50Hz
热扩散系数范围0.1-120m㎡/s
样品厚度10-1500um



应用场景
软件



       自主研发的算法与软件,包括实时成像图、振幅空间分布、等相位图、相位空间分布图、自动化数据分析等功能

拟合曲线:导热易轴(白)


拟合曲线:易热易轴(黑)


导热轴拟合图




不锈钢测量其他测量案例
不同厚度不锈钢薄膜样品测试

注:不锈钢为各项同性材料,面内与面外热扩散系数相同

不同样品面内热扩散系数测量不同样品面外热扩散系数测量



产品信息
温度范围RT-300℃
锁相后热灵敏度
≥0.1mK
薄膜测试精度
偏差≤5%
激光源532nm,最大功率1W

聚焦光斑尺寸≤200μm
真空腔内尺寸100*100*21mm(可定制)

样品尺寸≥10mm*10mm
真空度10-2mbar


纳米薄膜导热测量系统
纳米薄膜导热测量系统融合了锁相热成像技术,大幅提升激光闪射法的测量精度,并给出直观的成像分析结果,非常适合薄膜材料的导热性测量。
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